主讲人：韩宇教授
时间：6月28日上午10:30
地点：丽湖校区守信楼518
报告人简介：
韩宇博士于2003年在吉林大学获得博士学位，2003-2008年在新加坡A-Star任研究科学家，2009至2023间，就职于沙特阿卜杜拉国王科技大学，是化学和化学工程系教授。2023年9月，入职华南理工大学，任电子显微中心主任。韩宇博士主要从事多孔材料的合成与应用（催化、分离、水处理），以及电子束敏感材料的高分辨电子显微成像方面的研究，是超低剂量电子显微成像技术的联合发明人。发表学术论文400余篇，其中包括权威期刊如Nature、Science、Nature Nanotechnology、Nature Chemistry、Nature Materials等，总引用次数超过50,000，H-index大于120。韩宇教授2004年被麻省理工好色视频
《科技评论》杂志评选为百名青年发明家，2006年获新加坡青年科学家奖；2008年获Thomson Reuters Research Fronts Award (汤姆逊研究前沿奖)；2021年获得德国洪堡研究奖；2019-2023连续5年科睿唯安（Clarivate Analytics）高引学者。
报告摘要：
本次报告将介绍我们团队关于使用超低电子剂量电子显微技术对电子束敏感材料进行高分辨率成像的研究工作，主要讨论以下技术进展。首先，基于电子直读相机的使用、以及图像采集和图像处理方法的创新，我们开发了超低剂量透射电子显微技术（Ultralow-dose TEM），从而首次实现了对电子束高度敏感的晶态材料的原子分辨率成像[1-4]。其次，我们证明了积分差分相位衬度扫描透射电子显微成像技术（iDPC-STEM）可以在低剂量条件下为电子束敏感材料获取直接可解释的原子分辨率图像[5]。第三，我们发展了一套基于冷冻聚焦离子束（cryo-FIB）技术的TEM样品制备流程。这种方法有效地扩展了低剂量成像技术的应用范围，从纳米材料延伸至体相材料[6]。本次报告的最后，我将讨论4D-STEM在高度电子束敏感材料成像方面的巨大潜力，并提供初步实验结果以证明其可行性[7]。
参考文献：
[1] Unravelling surface and interfacial structures of a metal-organic framework by transmission electron microscopy. Nat. Mater. 2017, 16, 532-536.
[2] Atomic-resolution transmission electron microscopy of electron beam-sensitive crystalline materials. Science 2018, 359, 675-679.
[3] Imaging defects and their evolution in a metal-organic framework at sub-unit-cell resolution. Nat. Chem. 2019, 11, 622-628.
[4] Engineering grain boundaries in monolayer molybdenum disulfide for efficient water-ion separation. Science 2025, 387, 776-782.
[5] Direct Imaging of Atomically Dispersed Molybdenum that Enables Location of Aluminum in the Framework of Zeolite ZSM-5, Angew. Chem. Int. Ed., 2020, 59, 819-825
[6] Cryogenic focused ion beam enables atomic-resolution imaging of local structures in highly sensitive bulk crystals and devices. J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 3182-3191.
[7] Three-dimensional inhomogeneity of zeolite structure and composition revealed by electron ptychography. Science 2023, 380, 633-638.
欢迎有兴趣的师生参加！
